15.06.2016, 12:19 Uhr

Neues Messsystem auf der FH entwickelt

FH-Student David Hrubicek (re.) mit seinem Betreuer Thomas Fink (selbst FH-Absolvent) von Senmicro GmbH. (Foto: privat)

Welser Automatisierungstechnik-Student optimiert die Feuchtemessung in der Papierindustrie.

WELS. Der Welser Automatisierungstechnik-Student David Hrubicek entwickelt im Rahmen seiner Masterarbeit für die Senmicro GmbH ein neuartiges Feuchte-Messsystem für die Papierindustrie. Die Feuchtemessung zählt zu den wichtigsten Qualitätsparametern in der Papierproduktion. Bislang wurden die Papierbahnen berührungslos mittels Infrarot-Strahlung auf ihren Wassergehalt überprüft. Der Sensorik-Spezialist verwendet nun erstmals die NIR-Spektroskopie, die vor einigen Jahren noch in der Grundlagenforschung steckte. Die neue Feuchtemessung kann genauere Daten liefern, da sie das gesamte Infrarot-Wellenspektrum als Datenquelle heranzieht.

Ressourcenschonend
Die Papierherstellung ist ein energieintensiver Prozess. Der Feuchtegehalt ist dabei wichtiger Prozessparameter und auch ein Qualitätsmerkmal bei der Papierherstellung. Durch die Messung des Feuchtegehalts an bestimmten Positionen, kann der Vorgang der Papiertrocknung optimal geregelt und dadurch Energie sowie Ressourcen eingespart werden. „Zuerst werden die Modelle zwar im Labor entwickelt, anschließend wollen wir die Ergebnisse aber in der realen Papierproduktion bestätigen lassen. Wenn alles gut läuft, liefert das neue System viel genauere Daten und zwar auch unter widrigen Umgebungsbedingungen wie sie in einer Papiermaschine vorherrschen“, freut sich Hrubicek.

Betreuer ist selbst FH-Absolvent


Die Firma Senmicro GmbH ist Spezialist bei der Sensorentwicklung zur Messung des Feuchtegehalts von Papierbahnen. „An den Feuchtesensor werden viele Anforderungen gestellt: Er muss trotz Schmutz, hoher Temperatur und hoher Luftfeuchte schnelle, genaue und reproduzierbare Messwerte abliefern“, erklärt Senmicro-Firmenbetreuer Thomas Fink MSc. „Bisherige Sensorsysteme basierten ebenfalls auf Messungen im Infrarotbereich, jedoch nur bei einzelnen Wellenlängen. Mit der NIR-Spektroskopie wird nun das gesamte Wellenspektrum als Datenquelle herangezogen."
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